Produktöversikt

Det mikroskopbaserade-fotoelektriska analyssystemet använder fotoströmsskanningsteknik för att undersöka de specifika förhållandena för material som solceller och två-dimensionella material. Den kan mäta fluorescens, Raman-spektroskopi och fotoströmdata och kan utrustas med tillbehör som femtosekundlasrar och kryogena system. Den kan både fotografera och skanna material och utföra finbearbetning på materialytor. Oavsett om man identifierar problem i solceller eller undersöker användbarheten av två-dimensionella material, kan det ge korrekt information och hjälpa forskare och industri att utveckla sitt arbete.

Fördelar

Ultra-bred multi-excitationsljuskälla med flera våglängder

Ljusinformation insamlad från reflekterande mikroskop

Stöd mätlägen för fluorescens, Raman, fotoström, etc.

Stöd prov mobil skanning och galvanometerskanning och andra lösningar

Mycket automatiserat system

Parametrar

Ljuskälla	Excitationsljuskälla	Standard enkel-mod polarisation-upprätthållande fiberlaser: 405 nm, 520 nm, 1550 nm *Valfria val inkluderar pico andra pulslasrar, kvantkaskadlasrar (QCL), LED-ljuskällor, kontinuerligt avstämbara superkontinuumlasrar, laserdrivna vita ljuskällor- och deuterium-halogenbredspektrum-ljuskällor. Ljuskällan för hela uppsättningen av utrustning och de tillhörande optiska komponenterna, såsom det tillhörande filtret, kan styras fullständigt av datorprogramvara.
Ljuskälla	Ljuskälla	Utrustad vit LED-ljuskälla med valfria R/G/B monokromatiska lägen
Optisk objektivlins	Objektiv lins näshjul	Ett manuellt 5-håls revolvernosstycke, kompatibelt med mikroskopobjektiv från företag som Zeiss, Nikon och andra.
Optisk objektivlins	Objektiv linsförstoring	Synligt ljus långt-fältskorrigeringsobjektiv: 20 x,50 x Nära-infraröd flat-apokromatisk objektivlins: 10 x *Mikroskopobjektiv finns som tillval för andra våglängder.
Skanningsplattform	XY Motion-modul	XY-riktningsslaget är 150 mm vardera, noggrannheten i den slutna -slingan är 50 nm, det minsta rörliga steget är 100 nm och noggrannheten för upprepad positionering är 0,25 um.
	Z-axelrörelsemodul	Z-axis load :>20.0 kg, stroke :>15 mm, upprepad positioneringsnoggrannhet:± 1um
	Etapp	Tvåaxlig lutningsstegaxel:± 2 grader, axel: ± 2 grader och trådbindningsmodul *Valfri vakuumprovadsorptionsmodul
	Sondsäte	Fyra prober med förskjutningsnoggrannhet på 5 um och koaxial sonddiameter på 5 um, anslutna med BNC koaxialkabel. Genombrottsspänning: 500 V, läckström: < 10 pA * Koaxialsond med ultra-lågt läckage, RF-sond och icke-magnetisk sond är valfria, enligt applikationskraven.
Testmodul för elektrisk transport	En provbricka	Med fyra rumstemperaturprovhållare, med läckström är mindre än 100 pA.
Testmodul för elektrisk transport	Expansionslåda för elektrisk transport	En expansionsbox för elektrisk transport, med 15 BNC-honportar, utformad för att förlänga och utöka anslutningar till tätt packade testpunkter för detektering av elektriska signaler. Den innehåller 1 jordanslutningsgränssnitt för att förhindra att elektrostatisk urladdning skadar proverna.
Källmätare	Fyra-kvadrantprecisionsmätare för spänning och strömkälla	Maximalt strömkällasområde 1 A Maximalt spänningsområde 200 V Mätupplösning (ström/spänning) 10 fA/ 10 nV
Källmätare	Lås in-förstärkaren	Differentiellt eller enkel-inmatningsläge Ingångsläge för ström eller spänning Förstärkningsinställningsområde från 2 nv till lV (full range) Frekvenssvarsområde från 0,001 Hz till 102,4 kHz Automatisk justering av förstärkning, fas, dynamisk reserv, kompensationsinställning tidskonstant område: 10 us till 30 ks Dynamic Reserve :>100 dB Datorgränssnitt: GPlB och RS-232
Optiskt bord	Optiskt bord	Vibrationsisoleringsplattform

FAQ

Vad används detta multimodala optoelektroniska mikroskop huvudsakligen till?

Enkelt uttryckt är det ett "specialiserat verktyg" för att analysera material och enheter. Den kan användas för att undersöka egenskaperna och identifiera problem med material som solceller, två-dimensionella material och självlysande material. Den kan också utföra finbearbetning på materialytor, vilket gör den användbar för både vetenskaplig forskning och industriell utveckling.

Vad kan den mäta?

Den kan mäta ganska mycket. Den kan mäta fotoström, fluorescens, Raman-spektroskopi, och även fånga skanningsbilder och mäta fluorescenslivslängd. Till exempel kan den bestämma platsen för defekter i solceller och strukturen hos två-dimensionella material.

Kan jag välja konfiguration själv?

Ja. För ljuskällan kommer den som standard med 405nm och 520nm lasrar. Om det inte räcker kan du lägga till pikosekundpulsade lasrar och QCL-ljuskällor. Dessutom kan moduler för testning av låg-temperatur och tillbehör för femtosekundsbehandling väljas efter dina behov.

Hur exakta är resultaten?

Noggrannheten är ganska hög. Noggrannheten för XY-axelavsökning med sluten-slinga når 50 nm, vilket kan tydligt mäta enheter på submikron-nivå. Den kan också ta emot flera signaler samtidigt, vilket ger omfattande data som är mycket tillförlitliga för analys av materialegenskaper.

Är det svårt att operera?

Inte riktigt. Systemet är mycket automatiserat; ljuskällan och skanningsfunktionerna kan styras av datorprogram, vilket eliminerar behovet av upprepade manuella justeringar. Dessutom är komponenter som scenen och sondhållaren lättillgängliga och redo att användas omedelbart.

Certifikattioner

Vårt företags optiska utrustning (inklusive optisk bearbetningsutrustning och optisk inspektionsutrustning) har framgångsrikt erhållit ISO-certifiering.